Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности

Дифрактометр D8 FABLINE специально разработан для контроля качества полупроводниковых пластин в полупроводниковой промышленности. Оснащенный сенсорным экраном вместе с удобным и гибким программным обеспечением, D8 FABLINE позволяет быстро и качественно решать задачи контроля качества в полупроводниковой промышленности.

• Исследование пластин размером от 6″ до 300 мм
• Горизонтальный прободержатель обеспечивает высокое быстродействие системы и исключает повреждение образца
• Интерфейс SECS/GEM позволяет интегрировать D8 FABLINE в систему управления технологическим процессом
• Автоматическое распознавание образов дает возможность проведения точных микроанализов
• D8 FABLINE может быть оснащен одиночным или сдвоенным встроенным FOUP-интерфейсом для загрузки пластин
• Сенсорный экран делает работу с системой более удобной