Настольный электронный микроскоп Phenom Particle X

Многоцелевой настольный сканирующий электронный микроскоп, обеспечивающий автоматизированные исследования для контроля технической чистоты, аддитивного производства или контроля качества металлов. Для обеспечения автономности продолжительного или комплексного анализа, позволяет устанавливать в рабочую камеру сразу до 36 столиков с образцами, которые будут исследованы, проанализированы, и по каждому (или по группам) будет выдан отчет, содержащий всю необходимую информацию.

Основные преимущества:

  • компактные размеры и минимальные требования к установке;
  • высокие аналитические способности, подтвержденные сертификатом средства измерения Российской Федерации;
  • доступны все необходимые детекторы: вторичные электроны, обратно-рассеянные электроны и энергодисперсионный спектрометр;
  • цветная цифровая навигационная камера для легкой и понятной навигации по образцу(-ам);
  • время от загрузки образца до получения изображения в электронах составляет всего 30 секунд (60 секунд – для модификаций Phenom XL);
  • широкие возможности для автоматизации практически любых повторяющихся рабочих процессов.

There are no reviews yet.

Be the first to review “Настольный электронный микроскоп Phenom Particle X”