КР-микроскоп SENTERRA II позволяет измерять спектры комбинационного рассеяния (КР) и комбинировать пространственно-разрешенную молекулярную информацию с высококачественными микроскопическими изображениями образца. Анализ выполняется бесконтактным способом без необходимости пробоподготовки. Получаемые химические изображения поверхности образца имеют очень высокое пространственное разрешение (менее одного микрона) за счет использования оптического микроскопа OLYMPUS BX53M. Конфокальный микроскоп имеет возможность профилирования по глубине оптически прозрачных образцов, что позволяет проводить неразрушающий анализ в трех измерениях. Как инструмент обнаружения, дифференциации и идентификации органических и неорганических материалов SENTERRA II имеет широкий спектр применений, который может быть расширен за счет применения охлаждаемых и нагреваемых предметных столиков.

Основные преимущества:

• интуитивно понятное программное обеспечение и высокий уровень автоматизации;
• высокая точность волнового числа и измерения благодаря технологии SureCAL;
• спектральное разрешение — до 1,5 см-1;
• пространственное разрешение — 0,5 мкм;
• конфокальное разрешение — 2 мкм;
• компактная конструкция со встроенным в микроскоп спектрометром;
• полный спектральный диапазон со всеми решетками;
• подключение до 3 лазеров возбуждения с возможностью быстрого переключения;
• комбинация с технологией КР-Фурье для минимизации флуоресценции;
• исполнение с открытой архитектурой для исследования больших образцов.