«Модуль HTS-XT предназначен для осуществления высокопроизводительного скрининга методом ИК-Фурье спектроскопии. Сбор данных, их контроль и анализ осуществляется посредством программного обеспечения OPUS/LAB. Являясь внешним устройством анализа, модуль HTS-XT подсоединяется к различным моделям ИК-Фурье спектрометров Bruker Optics и, в зависимости от конфигурации, позволяет проводить измерения в среднем и ближнем ИК, а также в видимом диапазоне. Планшет для образцов соответствует стандартным форматам и содержит 96, 384 или 1536 ячеек. Для осуществления анализа 1–20 мкл образца помещают в ячейку и высушивают. Объем образца зависит от его формы, режима измерения и конфигурации планшета. Твердые образцы сначала высушивают и уплотняют перед помещением в планшет. Заполненный планшет при помощи моторизированного устройства подается в предварительно осушенный спектрометр. После чего измерение микропланшета осуществляется в автоматическом режиме как на пропускание, так и на отражение путем перемещения каждого образца в области фокусировки ИК-луча. HTS-XT использует ПО OPUS/LAB для автоматической регистрации спектров и анализа большого количества образцов. Для количественного анализа нескольких компонентов в сложных системах используют современные методы многопараметрического анализа PLS (Partial Least Squares). Для качественного анализа доступны такие алгоритмы анализа, как корреляция спектров, PCA (Principal Component Analysis) и ANN (Artifical Neural Networks). Хранение параметров измерения и результатов анализа в logfile (файле регистрации) позволяет осуществлять перенос данных во внешние программы или системы LIMS (Laboratory Information Management Systems).»

Основные преимущества:

• дентификация микроорганизмов;
• определение источников загрязнения;
• кинетический анализ полимеризации лаковых покрытий и многокомпонентных клеев;
• характеризация клеток (продуценты/непродуценты);
• идентификация и классификация алмазов по типу;
• анализ почв (классификация по типам и количественным параметрам).