M4 TORNADO и его модификация M4 TORNADO PLUS предназначен для неразрушающего элементного анализа и элементного картирования в материаловедении, экспертизе, геологии, археологии, биологии и т.д.
Спектрометр использует метод микрорентгенофлуоресцентного анализа (микро-РФА). Метод позволяет производить неразрушающий элементный анализ неоднородных проб, проб неправильной формы или небольших включений в пробе с высокой чувствительностью. Фокусировка рентгеновского излучения производится с помощью поликапиллярной оптики, что увеличивает его интенсивность на 3 порядка по сравнению с коллиматорной.
Спектрометр может поставляться на выбор с рентгеновской трубкой в комплектации с поликапилляром или коллиматором.
Опционально возможна установка двух рентгеновских трубок для эффективного возбуждения необходимых элементов и двух SDD детекторов для увеличения скорости сканирования поверхности и снижения эффекта тени.

Основные преимущества M4 TORNADO:

• Размер пучка 25 мкм, шаг столика 5 мкм, скорость перемещения столика от 100 мм/с.
• Скорость измерения распределения элементов при быстром картировании поверхности образца от 1 мс на пиксель (например, площадь 1 см² за 3 минуты).
• Анализ образцов любой формы без пробоподготовки. Объект не требуется помещать в прободержатель.
• Картирование в режиме реального времени по площади, линии, в выбранных точках и т.д.
• Возможность построения карт распределения элементов по срезам образца в виде 3D модели.
• Автофокусировка в каждой точке измерения, возможность анализа неровных поверхностей.
• Большая вакуумная камера размером 600×350×260 мм.
• Фазовый анализ неоднородностей для оценки распределения и пропорции различных фаз.
• Анализ толщины покрытий и многослойных систем на печатных платах, металлах или пластмассах.

Основные преимущества M4 TORNADO PLUS:

• Позволяет определять недоступные ранее для такого типа оборудования элементы как F, O, N и C.
• Новая поликапиллярная оптика с запатентованной системой AMS позволяет управлять апертурой и глубиной фокуса рентгеновского пучка, что неоценимо в измерении электронных плат и поверхностей с постоянными перепадами высот.
• Размер пучка 10 мкм, шаг столика 5 мкм, скорость перемещения столика от 100 мм/с.
• Скорость измерения распределения элементов площадью 1 см² за 3 минуты.
• Картирование в режиме реального времени по площади, линии, в выбранных точках и т. д.
• Возможность построения карт распределения элементов по срезам образца в виде 3D-модели.
• Фазовый анализ неоднородностей для оценки распределения и пропорции различных фаз.
• Анализ толщины покрытий и многослойных систем на печатных платах, металлах или пластмассах.