Конфокальный микроскоп LEXT OLS 5100

  • Конфокальный микроскоп Olympus LEXT OLS5100 предназначен для изучения структуры и топографии поверхности образцов любых типов. Благодаря точности измерения микроскоп подходит как для исследования материалографических образцов, так и для контроля качества измерительных, металлообрабатывающих и медицинских инструментов, микроэлектронных компонентов и иных деталей. Отличается удобством, простотой и высокой скоростью работы. Объединяет в себе исследовательский оптический моторизованный микроскоп, лазерный конфокальный измерительный микроскоп, а также лазерный профилометр-профилограф. Микроскоп внесен в Государственный реестр средств измерений.

      Основные преимущества:

    • двухканальная система лазерного сканирования;
    • измеряемая высота по оси Z — от 6 нм;
    • латеральное разрешение изображения в лазерном режиме — 120 нм;
    • возможность проведения измерений на панорамных 2D- и 3D-изображениях;
    • разрешение одного кадра в режиме лазерного сканирования — 4096 × 4096 точек;
    • возможность измерения толщин полупрозрачных покрытий.

There are no reviews yet.

Be the first to review “Конфокальный микроскоп LEXT OLS 5100”